标准概要

纳米技术原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法

Nanotechnology—Method for the measurement of the nanofilm-thickness by atomic force microscopy

国家标准《纳米技术原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。主要起草单位上海交通大学、纳米技术及应用国家工程研究中心。主要起草人李慧琴、金承钰、梁齐、何丹农、韦菲菲。 GB/T 36969-2018 现行

基础信息

标准号 GB/T 36969-2018

发布日期 2018-12-28

实施日期 2018-12-28

标准号 GB/T 36969-2018

发布日期 2018-12-28

实施日期 2018-12-28

起草单位

上海交通大学

纳米技术及应用国家工程研究中心

起草人

李慧琴

金承钰

韦菲菲

梁齐

何丹农

推荐标准

申明

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关键词标签

纳米技术 原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法