半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法》 由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。 主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 。 主要起草人 张天福 、高金环 、彭浩 、李树杰 、于学东 、崔波 、裴选 、迟雷 、张艳杰 。 GB/T 4937.11-2018 现行 本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-11:2002。 采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法。