发光二极管芯片点测方法

国家标准《发光二极管芯片点测方法》 由339-1（工业和信息化部（电子））归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。 主要起草单位 三安光电股份有限公司 、厦门市三安光电科技有限公司 、中国电子技术标准化研究院 、广州赛西标准检测研究院有限公司 。 主要起草人 蔡伟智 、梁奋 、刘秀娟 、李国煌 、吕艳 、金威 、邵晓娟 、周钢 、时军朋 。 GB/T 36613-2018 现行