半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动》 由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。 主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 。 主要起草人 迟雷 、彭浩 、岳振鹏 、李树杰 、崔波 、高金环 、裴选 、张艳杰 。 GB/T 4937.12-2018 现行 本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-12:2002。 采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动。