标准概要

电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法

Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method

国家标准《电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC3（全国半导体设备和材料标准化技术委员会封装分会）执行，主管部门为国家标准委。主要起草单位国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、江苏联瑞新材料股份有限公司、汉高华威电子有限公司。主要起草人封丽娟、李冰、陈进、夏永生、曹家凯、吕福发、阮建军、王松宪。 GB/T 36655-2018 现行

基础信息

标准号 GB/T 36655-2018

发布日期 2018-09-17

实施日期 2019-01-01

标准号 GB/T 36655-2018

发布日期 2018-09-17

实施日期 2019-01-01

起草单位

国家硅材料深加工产品质量监督检验中心

汉高华威电子有限公司

江苏联瑞新材料股份有限公司

起草人

封丽娟

李冰

曹家凯

吕福发

陈进

夏永生

阮建军

王松宪

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