半导体集成电路 快闪存储器测试方法

国家标准《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》 由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。 主要起草单位 中国电子技术标准化研究院 、中芯国际集成电路制造（上海）有限公司 、上海复旦微电子集团股份有限公司 、深圳市中兴微电子技术有限公司 、北京兆易创新科技股份有限公司 、复旦大学 、中兴通讯股份有限公司 。 主要起草人 菅端端 、陈大为 、钟明琛 、罗晓羽 、冯光涛 、倪昊 、赵子鉴 、董艺 、田万廷 、高硕 、闵昊 、刘刚 。 GB/T 36477-2018 现行