标准概要

半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry

国家标准《半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市国微电子有限公司、深圳市众志联合电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所。主要起草人陈雁、罗彬、郭超、王会影、李锟、蔡志刚、邬海忠、钟科。 GB/T 35007-2018 现行

基础信息

标准号 GB/T 35007-2018

发布日期 2018-03-15

实施日期 2018-08-01

标准号 GB/T 35007-2018

发布日期 2018-03-15

实施日期 2018-08-01

起草单位

成都振芯科技股份有限公司

工业和信息化部电子第五研究所

深圳市众志联合电子有限公司

工业和信息化部电子工业标准化研究院

深圳市国微电子有限公司

中国电子科技集团公司第二十九研究所

起草人

陈雁

罗彬

李锟

蔡志刚

郭超

王会影

邬海忠

钟科

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申明

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