标准概要

半导体集成电路电平转换器测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter

国家标准《半导体集成电路电平转换器测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位深圳市国微电子有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、工业和信息化部电子第五研究所、成都振芯科技股份有限公司。主要起草人宦承永、邬海忠、陆坚、魏军、王小强、罗彬。 GB/T 35006-2018 现行

基础信息

标准号 GB/T 35006-2018

发布日期 2018-03-15

实施日期 2018-08-01

标准号 GB/T 35006-2018

发布日期 2018-03-15

实施日期 2018-08-01

起草单位

深圳市国微电子有限公司

工业和信息化部电子第五研究所

中国电子科技集团公司第五十八研究所

成都振芯科技股份有限公司

起草人

宦承永

邬海忠

王小强

罗彬

陆坚

魏军

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