标准概要

纳米技术晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范

Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells

国家标准《纳米技术晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。主要起草单位中国科学院上海微系统与信息技术研究所。主要起草人陈一峰、陈小刚、宋志棠。 GB/T 33657-2017 现行

基础信息

标准号 GB/T 33657-2017

发布日期 2017-05-12

实施日期 2017-12-01

标准号 GB/T 33657-2017

发布日期 2017-05-12

实施日期 2017-12-01

起草单位

中国科学院上海微系统与信息技术研究所

起草人

陈一峰

陈小刚

宋志棠

推荐标准

申明

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关键词标签

纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范