标准概要

表面化学分析二次离子质谱硅中砷的深度剖析方法

Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of arsenic in silicon

国家标准《表面化学分析二次离子质谱硅中砷的深度剖析方法》由TC608（全国表面化学分析标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。主要起草单位中国电子科技集团公司第四十六研究所。主要起草人马农农、陈潇、何友琴、王东雪。 GB/T 32495-2016 现行本标准等同采用ISO国际标准：ISO 12406:2010。采标中文名称:表面化学分析二次离子质谱硅中砷的深度剖析方法。

基础信息

标准号 GB/T 32495-2016

发布日期 2016-02-24

实施日期 2017-01-01

标准号 GB/T 32495-2016

发布日期 2016-02-24

实施日期 2017-01-01

起草单位

中国电子科技集团公司第四十六研究所

起草人

马农农

陈潇

何友琴

王东雪

推荐标准

GB/T 17045-1997 电击防护装置和设备的通用部分

GB/T 12729.8-2008 香辛料和调味品水不溶性灰分的测定

GB/T 20877-2007 电气产品标准中引入环境因素的导则

GB/T 6435-2006 饲料中水分和其他挥发性物质含量的测定

GB/T 44198-2024 空间站科学实验系统集成与验证要求

GB/T 15472-1995 失真度测量仪通用技术条件和测试方法

GB/T 34349-2017 输气管道内腐蚀外检测方法

GB/T 34613-2017 光伏玻璃干热砂尘大气环境自然曝露试验方法及性能评价

GB/T 11913-1989 水质溶解氧的测定电化学探头法

GB/T 16555.2-1996 碳化硅耐火材料化学分析方法气体容量法测定碳化硅量

申明

本内容来源于国家标准化管理委员会及相关官方平台，本内容目的仅在于分享交流与学习。

关键词标签

北京市团体标准

团体标准哪里发布

全国团体信息标准平台

农村土地征收标准多少钱一亩

中华团体标准护理

团体素质拓展

做团体标准需多少费用

怎样申报团体标准

团体标准的约束力

团体标准和国家标准