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氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法

Test method for disoclation density of GaN single crystal—Cathodoluminescence spectroscopy
国家标准《氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 、苏州纳维科技有限公司 。 主要起草人 曾雄辉 、张燚 、董晓鸣 、牛牧童 、刘争晖 、邱永鑫 、王建峰 、徐科 。 GB/T 32282-2015 现行
  基础信息
标准号 GB/T 32282-2015
发布日期 2015-12-10
实施日期 2016-11-01
标准号 GB/T 32282-2015
发布日期 2015-12-10
实施日期 2016-11-01
  起草单位
  中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
  苏州纳维科技有限公司
  起草人
  曾雄辉
  张燚
  刘争晖
  邱永鑫
  董晓鸣
  牛牧童
  王建峰
  徐科
  推荐标准
  申明
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