标准概要

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分：显微结构的测定方法

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 8: Test method for microstructure

国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分：显微结构的测定方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国电子科技集团公司第十二研究所、中国电子技术标准化研究院、江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司。主要起草人江树儒、曹易、高永泉、翟文斌。 GB/T 5594.8-1985 （全部代替） GB/T 5594.8-2015 现行

基础信息

标准号 GB/T 5594.8-2015

发布日期 2015-05-15

实施日期 2016-01-01

全部代替标准 GB/T 5594.8-1985

标准号 GB/T 5594.8-2015

发布日期 2015-05-15

实施日期 2016-01-01

全部代替标准 GB/T 5594.8-1985

起草单位

中国电子科技集团公司第十二研究所

江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司

中国电子技术标准化研究院

起草人

江树儒

曹易

高永泉

翟文斌

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申明

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