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标准概要
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 8: Test method for microstructure
国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法》 由339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 中国电子科技集团公司第十二研究所 、中国电子技术标准化研究院 、江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司 。 主要起草人 江树儒 、曹易 、高永泉 、翟文斌 。 GB/T 5594.8-1985 (全部代替) GB/T 5594.8-2015 现行
基础信息
标准号
GB/T 5594.8-2015
发布日期
2015-05-15
实施日期
2016-01-01
全部代替标准
GB/T 5594.8-1985
标准号
GB/T 5594.8-2015
发布日期
2015-05-15
实施日期
2016-01-01
全部代替标准
GB/T 5594.8-1985
起草单位
中国电子科技集团公司第十二研究所
江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司
中国电子技术标准化研究院
起草人
江树儒
曹易
高永泉
翟文斌
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