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标准概要
太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法
Test method for thickness and total thickness variation of silicon wafers for solar cell
国家标准《太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司 、有研半导体材料股份有限公司 、乐山新天源太阳能科技有限公司 、青洋电子材料有限公司 。 主要起草人 何紫军 、冯地直 、程宇 、黎阳 、陈琳 、荆旭华 、刘卓 。 GB/T 30869-2014 现行
基础信息
标准号
GB/T 30869-2014
发布日期
2014-07-24
实施日期
2015-02-01
标准号
GB/T 30869-2014
发布日期
2014-07-24
实施日期
2015-02-01
起草单位
东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司
乐山新天源太阳能科技有限公司
有研半导体材料股份有限公司
青洋电子材料有限公司
起草人
何紫军
冯地直
陈琳
荆旭华
程宇
黎阳
刘卓
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