标准概要

碳化硅单晶片直径测试方法

Test method for measuring diameter of monocrystalline silicon carbide wafers

国家标准《碳化硅单晶片直径测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准委。主要起草单位中国电子科技集团公司第四十六研究所、中国电子技术标准化研究院。主要起草人丁丽、周智慧、蔺娴、郝建民等。 GB/T 30866-2014 现行 20231113-T-469 正在征求意见

基础信息

标准号 GB/T 30866-2014

发布日期 2014-07-24

实施日期 2015-02-01

标准号 GB/T 30866-2014

发布日期 2014-07-24

实施日期 2015-02-01

起草单位

中国电子科技集团公司第四十六研究所

中国电子技术标准化研究院

起草人

丁丽

周智慧

蔺娴

郝建民

推荐标准

GB/T 13452.1-1992 色漆和清漆总铅含量的测定火焰原子吸收光谱法

GB/T 3071-1982 沥青焦真比重的测定方法

GB/T 9104-2022 工业硬脂酸试验方法

GB/T 6360-1995 激光功率能量测试仪器规范

GB/T 40302-2021 塑料立式软薄试样与小火焰源接触的燃烧性能测定

GB/T 30566-2014 GH4169合金棒材、锻件和环形件

GB/T 20411-2006 饲料用大豆

GB/T 25753.3-2011 真空技术罗茨真空泵性能测量方法第3部分：溢流阀压差的测量

GB/T 16819-1997 1∶500，1∶1000，1∶2000地形图平板仪测量规范

GB/T 18768-2002 数码仓库应用系统规范

申明

本内容来源于国家标准化管理委员会及相关官方平台，本内容目的仅在于分享交流与学习。

关键词标签

团体标准排名

Group Standards

上海团体标准查询

团体标准国家标准

团体标准：推动行业规范化发展的关键力量

团体标准费用标准

团体标准宣贯

怎么申请团体标准

团体标准参与费用

最新护理团体标准19项