标准概要

太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法

Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells

国家标准《太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易（上海）有限公司、江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、有研半导体材料股份有限公司、特变电工新疆新能源股份有限公司、洛阳鸿泰半导体有限公司、连云港国家硅材料深加工产品质量监督检验中心。主要起草人徐自亮、任皓、陈佳洵、李锐、孙燕、熊金杰等。 GB/T 30860-2014 现行

基础信息

标准号 GB/T 30860-2014

发布日期 2014-07-24

实施日期 2015-04-01

标准号 GB/T 30860-2014

发布日期 2014-07-24

实施日期 2015-04-01

起草单位

中国有色金属工业标准计量质量研究所

江苏协鑫硅材料科技发展有限公司

特变电工新疆新能源股份有限公司

连云港国家硅材料深加工产品质量监督检验中心

瑟米莱伯贸易（上海）有限公司

有研半导体材料股份有限公司

洛阳鸿泰半导体有限公司

起草人

徐自亮

任皓

孙燕

熊金杰

陈佳洵

李锐

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申明

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