标准概要

碳化硅单晶抛光片

Polished monocrystalline silicon carbide wafers

国家标准《碳化硅单晶抛光片》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位北京天科合达蓝光半导体有限公司、中国科学院物理研究所。主要起草人陈小龙、郑红军、张玮、郭钰、刘春俊、刘振洲。 GB/T 30656-2014 废止 GB/T 30656-2023 （全部代替）

基础信息

标准号 GB/T 30656-2014

发布日期 2014-12-31

实施日期 2015-09-01

废止日期 2023-10-01

标准号 GB/T 30656-2014

发布日期 2014-12-31

实施日期 2015-09-01

废止日期 2023-10-01

起草单位

北京天科合达蓝光半导体有限公司

中国科学院物理研究所

起草人

陈小龙

郑红军

刘春俊

刘振洲

张玮

郭钰

推荐标准

GB/T 38607-2020 办公家具桌台类稳定性、强度和耐久性测试方法

GB/T 12151-2005 锅炉用水和冷却水分析方法浊度的测定（福马肼浊度）

GB/T 10716-2012 同步带传动汽车同步带物理性能试验方法

GB/T 8005.4-2022 铝及铝合金术语第4部分：回收铝

GB/T 7166-1987 核动力堆堆芯或堆主包壳内温度测量特性和测试方法

GB/T 8157-1987 氟化钠试样的制备与贮存

GB/T 42168.1-2022 避孕套临床研究指南第1部分：男用避孕套基于自我报告的临床功能研究

GB/T 32919-2016 信息安全技术工业控制系统安全控制应用指南

GB/T 35530-2017 混合气体称量制备组分相关性控制

GB/T 19114.1-2003 工业自动化系统与集成工业制造管理数据第1部分:综述

申明

本内容来源于国家标准化管理委员会及相关官方平台，本内容目的仅在于分享交流与学习。

关键词标签