标准概要

碳化硅单晶抛光片

Polished monocrystalline silicon carbide wafers

国家标准《碳化硅单晶抛光片》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位北京天科合达蓝光半导体有限公司、中国科学院物理研究所。主要起草人陈小龙、郑红军、张玮、郭钰、刘春俊、刘振洲。 GB/T 30656-2014 废止 GB/T 30656-2023 （全部代替）

基础信息

标准号 GB/T 30656-2014

发布日期 2014-12-31

实施日期 2015-09-01

废止日期 2023-10-01

标准号 GB/T 30656-2014

发布日期 2014-12-31

实施日期 2015-09-01

废止日期 2023-10-01

起草单位

北京天科合达蓝光半导体有限公司

中国科学院物理研究所

起草人

陈小龙

郑红军

刘春俊

刘振洲

张玮

郭钰

推荐标准

GB/T 24630.2-2024 产品几何技术规范（GPS）平面度第2部分：规范操作集

GB/T 5704-2008 人体测量仪器

GB/T 4662-2003 滚动轴承额定静载荷

GB/T 8158.8-1987 氟化钠化学分析方法重量法测定水不溶物量

GB/T 8606-2003 液压快换接头螺纹连接尺寸及技术要求

GB/T 39315.5-2020 军民通用资源数据模型第5部分：人员类

GB/T 17215.941-2012 电测量设备可信性第41部分：可靠性预测

GB/T 19287-2003 电信设备的抗扰度通用要求

GB/T 17274-1998 系列1无压干散货集装箱技术要求和试验方法

GB/T 33846.1-2017 信息技术 SOA支撑功能单元互操作第1部分：总体框架

申明

本内容来源于国家标准化管理委员会及相关官方平台，本内容目的仅在于分享交流与学习。

关键词标签

团队标准