标准概要

硅材料原生缺陷图谱

Metallographs collection for original defects of crystalline silicon

国家标准《硅材料原生缺陷图谱》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位有研半导体材料股份有限公司、东方电气集团峨眉半导体材料有限公司、南京国盛电子有限公司、杭州海纳半导体有公司、万向硅峰电子股份有限公司、四川新光硅业科技有限责任公司、陕西天宏硅材料有限责任公司、中国有色金属工业标准化计量质量研究所。主要起草人孙燕、曹孜、翟富义、杨旭、谭卫东、黄笑容等。 GB/T 30453-2013 现行

基础信息

标准号 GB/T 30453-2013

发布日期 2013-12-31

实施日期 2014-10-01

标准号 GB/T 30453-2013

发布日期 2013-12-31

实施日期 2014-10-01

起草单位

有研半导体材料股份有限公司

南京国盛电子有限公司

万向硅峰电子股份有限公司

陕西天宏硅材料有限责任公司

东方电气集团峨眉半导体材料有限公司

杭州海纳半导体有公司

四川新光硅业科技有限责任公司

中国有色金属工业标准化计量质量研究所

起草人

孙燕

曹孜

谭卫东

黄笑容

翟富义

杨旭

推荐标准

GB/T 17744-2020 石油天然气工业钻井和修井设备

GB/T 3789.31-1991 发射管电性能测试方法同步脉冲压缩的测试方法

GB/T 33770.2-2019 信息技术服务外包第2部分：数据保护要求

GB 25115.4-2010 工业洗涤机械的安全要求第4部分：烘干机

GB/T 12499-1990 铷原子频率标准测试方法

GB/T 15746.2-1995 汽车修理质量检查评定标准发动机大修

GB/T 2423.34-2024 环境试验第2部分：试验方法试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验

GB/T 13834-2008 纤维用亚麻雨露干茎

GB/T 23711.5-2019 塑料衬里压力容器试验方法第5部分：冷热循环检验

GB/T 16716.6-2012 包装与包装废弃物第6部分：能量回收利用

申明

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