声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法

国家标准《声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法》 由TC182（全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。 主要起草单位 中国电子科技集团公司第二十六研究所 、中国电子科技集团德清华莹电子有限公司 、北京石晶光电科技有限公司 。 主要起草人 张小梅 、蒋春键 、吴兆刚 、吴剑波 、赵雄章 、周洋舟 。 GB/T 30118-2013 现行 20194111-T-339 正在批准 本标准修改采用IEC国际标准：IEC 62276:2005。 采标中文名称:声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法。