标准概要

红外焦平面阵列参数测试方法

Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays

国家标准《红外焦平面阵列参数测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国科学院上海技术物理研究所。主要起草人丁瑞军、梁平治、唐红兰、陈洪雷、曹妩媚、殷建军等。 GB/T 17444-1998 （全部代替） GB/T 17444-2013 现行

基础信息

标准号 GB/T 17444-2013

发布日期 2013-11-12

实施日期 2014-04-15

全部代替标准 GB/T 17444-1998

标准号 GB/T 17444-2013

发布日期 2013-11-12

实施日期 2014-04-15

全部代替标准 GB/T 17444-1998

起草单位

中国科学院上海技术物理研究所

起草人

丁瑞军

梁平治

曹妩媚

殷建军

唐红兰

陈洪雷

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申明

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