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标准概要
薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits
国家标准《薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片》 由339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 中国电子技术标准化研究院 。 主要起草人 曹易 、李晓英 。 GB/T 14620-1993 (全部代替) GB/T 14620-2013 现行
基础信息
标准号
GB/T 14620-2013
发布日期
2013-11-12
实施日期
2014-04-15
全部代替标准
GB/T 14620-1993
标准号
GB/T 14620-2013
发布日期
2013-11-12
实施日期
2014-04-15
全部代替标准
GB/T 14620-1993
起草单位
中国电子技术标准化研究院
起草人
曹易
李晓英
推荐标准
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GB/T 17813-2018 添加剂预混合饲料中烟酸与叶酸的测定 高效液相色谱法
GB/T 44829-2024 PfAgo核酸内切酶活性检测方法
GB/T 20706-2006 可可粉
GB/T 8151.15-2005 锌精矿化学分析方法 汞量的测定 原子荧光光谱法
GB/T 24288-2009 纸和纸板 主波长和兴奋纯度的测定 D65/10°漫反射法
GB/T 6490-2008 水轮泵
GB/T 12162.3-2004 用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的 X和γ参考辐射 第3部分:场所剂量仪和个人剂量计的校准及其能量响应和角响应的测定
GB/T 17163-2022 几何量测量器具术语 基本术语
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