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标准概要
薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits
国家标准《薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片》 由339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 中国电子技术标准化研究院 。 主要起草人 曹易 、李晓英 。 GB/T 14620-1993 (全部代替) GB/T 14620-2013 现行
基础信息
标准号
GB/T 14620-2013
发布日期
2013-11-12
实施日期
2014-04-15
全部代替标准
GB/T 14620-1993
标准号
GB/T 14620-2013
发布日期
2013-11-12
实施日期
2014-04-15
全部代替标准
GB/T 14620-1993
起草单位
中国电子技术标准化研究院
起草人
曹易
李晓英
推荐标准
GB/T 10722-2003 炭黑 总表面积和外表面积的测定 氮吸附法
GB/T 17029-1997 电子设备用电位器 第5部分:空白详细规范 单圈旋转低功率电位器 评定水平F
GB/T 3916-2013 纺织品 卷装纱 单根纱线断裂强力和断裂伸长率的测定(CRE法)
GB/T 14745-1993 包装 缓冲材料 蠕变特性试验方法
GB/T 34682-2017 含有活性稀释剂的涂料中挥发性有机化合物(VOC)含量的测定
GB/T 9979-1988 纤维增强塑料高低温力学性能试验准则
GB/T 23913.6-2009 复合岩棉板耐火舱室 第6部分:安装节点
GB/T 1537-2003 棉籽油
GB/T 34022-2017 小型游乐设施 立体攀网
GB/T 34980.2-2017 智能终端软件平台技术要求 第2部分:应用与服务
申明
本内容来源于国家标准化管理委员会及相关官方平台,本内容目的仅在于分享交流与学习。
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