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标准概要
半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检
Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 。 主要起草人 陈海蓉 、李丽霞 、崔波 。 GB/T 4937.3-2012 现行 本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-3:2002。 采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检。
基础信息
标准号
GB/T 4937.3-2012
发布日期
2012-11-05
实施日期
2013-02-15
标准号
GB/T 4937.3-2012
发布日期
2012-11-05
实施日期
2013-02-15
起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人
陈海蓉
李丽霞
崔波
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