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  标准概要

微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法

Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method of determination for apparent growth direction of wirelike crystals by transmission electron microscopy
国家标准《微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法》 由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 北京科技大学 。 主要起草人 权茂华 、柳得橹 。 GB/T 43610-2023 现行 本标准修改采用ISO国际标准:ISO 19214:2017。 采标中文名称:微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法。
  基础信息
标准号 GB/T 43610-2023
发布日期 2023-12-28
实施日期 2024-07-01
标准号 GB/T 43610-2023
发布日期 2023-12-28
实施日期 2024-07-01
  起草单位
  北京科技大学
  起草人
  权茂华
  柳得橹
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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