标准概要

硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法

Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers by non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance

国家标准《硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位有研半导体材料股份有限公司、瑟米莱伯贸易（上海）有限公司、中国计量科学研究院、洛阳单晶硅有限责任公司等。主要起草人曹孜、孙燕、黄黎、高英等。 GB/T 26068-2010 废止 GB/T 26068-2018 （全部代替）

基础信息

标准号 GB/T 26068-2010

发布日期 2011-01-10

实施日期 2011-10-01

废止日期 2019-11-01

标准号 GB/T 26068-2010

发布日期 2011-01-10

实施日期 2011-10-01

废止日期 2019-11-01

起草单位

有研半导体材料股份有限公司

中国计量科学研究院

瑟米莱伯贸易（上海）有限公司

洛阳单晶硅有限责任公司等

起草人

曹孜

孙燕

黄黎

高英

推荐标准

GB/T 34179-2017 光伏玻璃多因素耦合环境加速老化试验方法

GB 317-1998 白砂糖

GB/T 37766-2019 机载吸波超材料通用规范

GB 15603-2022 危险化学品仓库储存通则

GB/T 483-1998 煤炭分析试验方法一般规定

GB/T 19408.1-2003 农业车辆挂车和牵引车的机械连接第1部分:牵引钩尺寸

GB/T 41234-2022 水生动物RNA病毒核酸检测参考物质质量控制规范假病毒

GB/T 5267.4-2009 紧固件表面处理耐腐蚀不锈钢钝化处理

GB 17790-1999 房间空气调节器安装规范

GB/T 35702.1-2017 高压直流系统用电压源换流器阀损耗第1部分：一般要求

申明

本内容来源于国家标准化管理委员会及相关官方平台，本内容目的仅在于分享交流与学习。

关键词标签

团队标准