无损检测 工业X射线系统焦点特性 第1部分：扫描方法

国家标准《无损检测 工业X射线系统焦点特性 第1部分：扫描方法》 由TC56（全国无损检测标准化技术委员会）归口 ，主管部门为国家标准委。 主要起草单位 上海泰司检测科技有限公司 、上海英华无损检测技术有限公司 、上海材料研究所 、上海诚友实业有限公司等 。 主要起草人 孔凡琴 、李博 、章怡明 、金宇飞等 。 GB/T 25758.1-2010 现行 本标准等同采用其他国际标准：EN 12543-1:1999。 采标中文名称:无损检测 工业X射线系统焦点特性 第1部分：扫描方法。