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标准概要
集成电路三维封装 芯片叠层工艺过程和评价要求
Integrated circuit 3D packaging— Requirement for die stack process and evaluation
国家标准《集成电路三维封装 芯片叠层工艺过程和评价要求》 由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 中国电子科技集团公司第五十八研究所 、神州龙芯智能科技有限公司 。 主要起草人 袁世伟 、高娜燕 、肖汉武 、帅喆 、黄海林 、肖隆腾 、何慧颖 。 GB/T 44775-2024 即将实施
基础信息
标准号
GB/T 44775-2024
发布日期
2024-10-26
实施日期
2025-05-01
标准号
GB/T 44775-2024
发布日期
2024-10-26
实施日期
2025-05-01
起草单位
中国电子科技集团公司第五十八研究所
神州龙芯智能科技有限公司
起草人
袁世伟
高娜燕
黄海林
肖隆腾
肖汉武
帅喆
何慧颖
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