标准概要

半导体单晶晶向测定方法

Testing methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal

国家标准《半导体单晶晶向测定方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准委。主要起草单位峨嵋半导体材料厂。主要起草人杨旭、何兰英。 GB/T 1555-1997 （全部代替） GB/T 1555-2009 废止 GB/T 1555-2023 （全部代替）

基础信息

标准号 GB/T 1555-2009

发布日期 2009-10-30

实施日期 2010-06-01

废止日期 2024-03-01

全部代替标准 GB/T 1555-1997

标准号 GB/T 1555-2009

发布日期 2009-10-30

实施日期 2010-06-01

废止日期 2024-03-01

全部代替标准 GB/T 1555-1997

起草单位

峨嵋半导体材料厂

起草人

杨旭

何兰英

推荐标准

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申明

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