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标准概要
硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconduetivity decay
国家标准《硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 峨嵋半导体材料厂 。 主要起草人 江莉 、杨旭 。 GB/T 1553-1997 (全部代替) GB/T 1553-2009 废止 GB/T 1553-2023 (全部代替)
基础信息
标准号
GB/T 1553-2009
发布日期
2009-10-30
实施日期
2010-06-01
废止日期
2024-03-01
全部代替标准
GB/T 1553-1997
标准号
GB/T 1553-2009
发布日期
2009-10-30
实施日期
2010-06-01
废止日期
2024-03-01
全部代替标准
GB/T 1553-1997
起草单位
峨嵋半导体材料厂
起草人
江莉
杨旭
推荐标准
GB/T 16596-1996 确定晶片坐标系规范
GB/T 4700.3-1984 硅钙合金化学分析方法 EDTA滴定法测定铝量
GB/T 14142-2017 硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法
GB/T 7471-1987 水质 镉的测定 双硫腙分光光度法
GB/T 33014.2-2016 道路车辆 电气/电子部件对窄带辐射电磁能的抗扰性试验方法 第2部分:电波暗室法
GB/T 25020.4-2016 电气化铁路接触网钢支柱 第4部分:H形支柱
GB/T 31052.2-2016 起重机械 检查与维护规程 第2部分:流动式起重机
GB/T 39673.6-2024 住宅和楼宇电子系统(HBES)及楼宇自动化和控制系统(BACS) 第6部分:规划和安装要求
GB/T 34590.12-2022 道路车辆 功能安全 第12部分:摩托车的适用性
GB/T 19346-2003 非晶纳米晶软磁合金交流磁性能测试方法
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