半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求

国家标准《半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求》 由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。 主要起草单位 中国电子科技集团公司第四十三研究所 、中国电子技术标准化研究院 。 主要起草人 王婷婷 、呂红杰 、冯玲玲 、王琪 、李林森 、雷剑 、张亚娟 。 GB/T 43035-2023 现行 本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60748-20-1:1994。 采标中文名称:半导体器件 集成电路 第20 部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求。