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  标准概要

集成电路 CMOS图像传感器测试方法

Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors
国家标准《集成电路 CMOS图像传感器测试方法》 由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 、重庆光电技术研究所 、天津大学 、长春精测光电技术有限公司 、中国电子技术标准化研究院 、深圳佑驾创新科技有限公司 。 主要起草人 李俊霖 、张涛 、兰太吉 、杨永强 、赵宇 、聂真威 、韩冰 、金辉 、马洪涛 、卢岩 、徐江涛 、刘昌举 、唐延甫 、聂凯明 、李金 、高志远 、马悦 、刘国清 、王琪 、刘秀娟 。 GB/T 43063-2023 现行
  基础信息
标准号 GB/T 43063-2023
发布日期 2023-09-07
实施日期 2024-01-01
标准号 GB/T 43063-2023
发布日期 2023-09-07
实施日期 2024-01-01
  起草单位
  中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  天津大学
  中国电子技术标准化研究院
  重庆光电技术研究所
  长春精测光电技术有限公司
  深圳佑驾创新科技有限公司
  起草人
  李俊霖
  张涛
  赵宇
  聂真威
  马洪涛
  卢岩
  唐延甫
  聂凯明
  马悦
  刘国清
  兰太吉
  杨永强
  韩冰
  金辉
  徐江涛
  刘昌举
  李金
  高志远
  王琪
  刘秀娟
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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