标准概要

高温超导薄膜微波表面电阻测试

Measurements of microwave surface resistance of resistance of HTSC thin film

国家标准《高温超导薄膜微波表面电阻测试》由TC265（全国超导标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。主要起草单位电子科技大学、清华大学、南京大学等。主要起草人罗正祥、刘宜平、李宏成等。 GB/T 22586-2008 废止 GB/T 22586-2018 （全部代替）本标准等同采用IEC国际标准：IEC 61788-7:2006。采标中文名称:电子性能测量微波频率下超导体的表面电阻。

基础信息

标准号 GB/T 22586-2008

发布日期 2008-12-15

实施日期 2009-05-01

废止日期 2018-10-01

标准号 GB/T 22586-2008

发布日期 2008-12-15

实施日期 2009-05-01

废止日期 2018-10-01

起草单位

电子科技大学

南京大学等

清华大学

起草人

罗正祥

刘宜平

李宏成

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申明

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