标准概要

薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction

国家标准《薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位北京科技大学。主要起草人柳得橹。 GB/T 20724-2006 废止 GB/T 20724-2021 （全部代替）

基础信息

标准号 GB/T 20724-2006

发布日期 2006-12-25

实施日期 2007-08-01

废止日期 2022-07-01

标准号 GB/T 20724-2006

发布日期 2006-12-25

实施日期 2007-08-01

废止日期 2022-07-01

起草单位

北京科技大学

起草人

柳得橹

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申明

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