标准概要

半导体探测器X射线能谱仪通则

Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors

国家标准《半导体探测器X射线能谱仪通则》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位中国科学院地质与地球物理研究所。主要起草人曾荣树、徐文东、马玉光、范逛等。 GB/T 20726-2006 废止 GB/T 20726-2015 （全部代替）本标准等同采用ISO国际标准：ISO 15632:2002。采标中文名称:半导体探测器X射线能谱仪通则。

基础信息

标准号 GB/T 20726-2006

发布日期 2006-12-25

实施日期 2007-08-01

废止日期 2016-09-01

标准号 GB/T 20726-2006

发布日期 2006-12-25

实施日期 2007-08-01

废止日期 2016-09-01

起草单位

中国科学院地质与地球物理研究所

起草人

曾荣树

徐文东

马玉光

范逛

推荐标准

GB/T 41743-2022 真空玻璃保温性能及其衰减快速检测评估方法非稳态法

GB/T 20858-2007 玻璃容器用重量法测定容量的试验方法

GB/T 20934-2016 钢拉杆

GB/T 9851.1-1990 印刷技术术语基本术语

GB/T 10893-1989 压缩空气干燥器规范与试验

GB 3836.13-1997 爆炸性气体环境用电气设备第13部分:爆炸性气体环境用电气设备的检修

GB/T 19653-2005 霓虹灯安装规范

GB 16196-1996 车间空气中凝聚二氧化硅粉尘卫生标准

GB/T 5009.183-2003 植物蛋白饮料中脲酶的定性测定

GB/T 18764-2002 民用航空旅客运输术语

申明

本内容来源于国家标准化管理委员会及相关官方平台，本内容目的仅在于分享交流与学习。

关键词标签