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半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分:温湿度贮存

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 42:Temperature and humidity storage
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分:温湿度贮存》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 、武汉中原电子集团有限公司 、安徽俊承科技有限公司 、武汉格物芯科技有限公司 、河北北芯半导体科技有限公司 、深圳基本半导体有限公司 。 主要起草人 裴选 、周勇 、崔从俊 、何黎 、尹丽晶 、汪之涵 、张魁 、和巍巍 。 GB/T 4937.42-2023 现行 本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-42:2014。 采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分:温湿度贮存。
  基础信息
标准号 GB/T 4937.42-2023
发布日期 2023-05-23
实施日期 2023-12-01
标准号 GB/T 4937.42-2023
发布日期 2023-05-23
实施日期 2023-12-01
  起草单位
  中国电子科技集团公司第十三研究所
  安徽俊承科技有限公司
  河北北芯半导体科技有限公司
  武汉中原电子集团有限公司
  武汉格物芯科技有限公司
  深圳基本半导体有限公司
  起草人
  裴选
  周勇
  尹丽晶
  汪之涵
  崔从俊
  何黎
  张魁
  和巍巍
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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