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标准概要
光掩模缺陷分类和尺寸定义的准则
Guidelines for photomask defect classification and size definition
国家标准《光掩模缺陷分类和尺寸定义的准则》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC4(全国半导体设备和材料标准化技术委员会微光刻分会)执行 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 中国科学院微电子中心 。 GB/T 16880-1997 现行 本标准等同采用其他国际标准:SEMI P22:1993。 采标中文名称:。
基础信息
起草单位
标准号
GB/T 16880-1997
发布日期
1997-06-20
实施日期
1998-03-01
标准类别
基础
中国标准分类号
L97
国际标准分类号
31.020 31 电子学 31.020 电子元器件综合
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会微光刻分会
主管部门
国家标准委
起草人
中国科学院微电子中心
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