标准概要

半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

Semiconductor integrated circuits--General principles of measuring methods of voltage regulator

国家标准《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位北京半导体器件五厂。 GB 4377-1984 （全部代替） GB/T 4377-1996 废止 GB/T 4377-2018 （全部代替）

基础信息

标准号 GB/T 4377-1996

发布日期 1996-07-09

实施日期 1997-01-01

废止日期 2018-08-01

全部代替标准 GB 4377-1984

标准号 GB/T 4377-1996

发布日期 1996-07-09

实施日期 1997-01-01

废止日期 2018-08-01

全部代替标准 GB 4377-1984

起草单位

北京半导体器件五厂

起草人

SJ/T 10805-2000 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

20232703-T-339 半导体集成电路电压调整器系列和品种

GB/T 4377-2018 半导体集成电路电压调整器测试方法

GB/T 14114-1993 半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理

GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理

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申明

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半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理

半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理