标准概要

半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理

General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits

国家标准《半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位上海元件五厂。 GB/T 14031-1992 现行

基础信息

标准号 GB/T 14031-1992

发布日期 1992-12-17

实施日期 1993-08-01

标准号 GB/T 14031-1992

发布日期 1992-12-17

实施日期 1993-08-01

起草单位

上海元件五厂

起草人

GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

SJ/T 10250-1991 半导体集成电路CB565型模拟锁相环详细规范

GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理

SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理

SJ/T 10804-2000 半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理

SJ/T 10805-2000 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

SJ/T 10427.1-1993 半导体集成电路音响电路调频变频器测试方法的基本原理

SJ/T 10427.2-1993 半导体集成电路音响电路中频放大器测试方法的基本原理

GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

推荐标准

申明

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