标准概要

半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理

Generalprinciple of measuring methods of microprocessors and peripheral interface circuits’ parameters for semiconductor integrated circuits

国家标准《半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位北京机械自动化所。 GB/T 12843-1991 废止

基础信息

标准号 GB/T 12843-1991

发布日期 1991-04-28

实施日期 1991-12-01

废止日期 2004-10-14

标准号 GB/T 12843-1991

发布日期 1991-04-28

实施日期 1991-12-01

废止日期 2004-10-14

起草单位

北京机械自动化所

起草人

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申明

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半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理

半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理