光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法

国家标准《光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法》 由TC103（全国光学和光子学标准化技术委员会）归口，TC103SC5（全国光学和光子学标准化技术委员会光学材料和元件分会）执行 ，主管部门为中国兵器工业集团公司。 主要起草单位 浙江大学 、杭州晶耐科光电技术有限公司 、中国科学院大连化学物理研究所 、中国工程物理研究院激光聚变研究中心 、中国科学院上海光学精密机械研究所 、中国兵器工业标准化研究所 、江苏皇冠新材料科技有限公司 、福建福特科光电股份有限公司 。 主要起草人 杨甬英 、曹频 、李刚 、杨李茗 、刘旭 、刘世杰 、胡丽丽 、徐晓飞 、李炜娜 、麦启波 、黄木旺 。 GB/T 41805-2022 现行