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标准概要
CMOS集成电路抗辐射加固设计要求
Design requirements of radiation hardening for CMOS IC
国家标准《CMOS集成电路抗辐射加固设计要求》 由TC425(全国宇航技术及其应用标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所 。 主要起草人 刘智 、葛梅 、谢成民 、王斌 、岳红菊 、于洪波 、姚思远 、李海松 、耿增建 、胡巧玉 。 GB/T 41033-2021 现行
基础信息
标准号
GB/T 41033-2021
发布日期
2021-12-31
实施日期
2022-07-01
标准号
GB/T 41033-2021
发布日期
2021-12-31
实施日期
2022-07-01
起草单位
中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所
起草人
刘智
葛梅
岳红菊
于洪波
耿增建
胡巧玉
谢成民
王斌
姚思远
李海松
推荐标准
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申明
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