标准概要

硅单晶抛光试验片规范

Specification for polished test silicon wafers

国家标准《硅单晶抛光试验片规范》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位宁波立立电子股份有限公司、杭州海纳半导体有限公司。主要起草人宫龙飞、何良恩、许峰、黄笑容等。 GB/T 26065-2010 现行

基础信息

标准号 GB/T 26065-2010

发布日期 2011-01-10

实施日期 2011-10-01

标准号 GB/T 26065-2010

发布日期 2011-01-10

实施日期 2011-10-01

起草单位

宁波立立电子股份有限公司

杭州海纳半导体有限公司

起草人

宫龙飞

何良恩

许峰

黄笑容

推荐标准

GB/T 17980.26-2000 农药田间药效试验准则（一）杀菌剂防治黄瓜霜霉病

GB/T 22342-2022 石油天然气钻采设备井下安全阀系统设计、安装、操作、试验和维护

GB/T 18567-2001 高速公路隧道监控系统模式

GB/T 24160-2022 车用压缩天然气钢质内胆环向缠绕气瓶

GB/T 7605-2008 运行中汽轮机油破乳化度测定法

GB/T 9722-2006 化学试剂气相色谱法通则

GB/T 7739.14-2019 金精矿化学分析方法第14部分：铊量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法和电感耦合等离子体质谱法

GB/T 42123-2022 个人健康设备通信规范

GB/T 15706.1-2007 机械安全基本概念与设计通则第1部分：基本术语和方法

GB/T 20138-2006 电器设备外壳对外界机械碰撞的防护等级（IK代码）

申明

本内容来源于国家标准化管理委员会及相关官方平台，本内容目的仅在于分享交流与学习。

关键词标签

怎么查询团体标准

做团体标准需多少费用

团体标准申请费用一般多少

决定群体规范重要性的因素有哪些

团体标准编写标准

团体标准服务费

有做团体标准的吗

团体标准费用标准

如何办理团体标准申请

国家标准团体标准行业标准